Mata Kuliah
ANALISIS DATA DIFRAKSI

MK Analisis Data Difraksi (ADD) ini mempelajari bagaimana cara menginvestigasi dan memaknai struktur internal material padatan kristalin melalui kajian teoritis dan praktis (berupa analisis data eksperimen) terhadap hasil uji difraksi sinar-x (x-ray diffraction, XRD) baik secara kualitatif maupun kuantitatif. Materi dari mata kuliah ini terdiri dari empat bagian utama yang akan disajikan secara urut dan runtut. PERTAMA, dimulai dengan review tentang material padat kristalin (disingkat: kristal) sebagai pusat-pusat penghambur sinar-x, geometri kristal, kisi dan basis sebagai pembangun struktur kristal, paramater kisi, sel satuan, simetri kristal, bidang kristal dan penentuan orientasinya. KEDUA, kajian tentang fisika dari sinar-x, sifat-sifat dan cara produksinya, spektrum kontinyu dan spektrum karakteristik, transisi elektron pada atom yang disertai dengan emisi radiasi karakteristik sinar-x. KETIGA, kajian tentang ilmu difraksi sinar-x oleh atom-atom kristal guna memahami struktur internal bahan kristalin, set-up eksperimen XRD, dan mengakses data hasil eksperimen tersebut. KEEMPAT, kajian bagaimana cara menganalisis data hasil eksperimen difraksi sinar-x, baik secara kualitatif (dengan software Match!) maupun kuantitatif (dengan metode Rietveld dan software Rietica), serta mempraktekkannya menggunakan data hasil eksperimen di atas.

• CPL-3
  Mengembangkan pemikiran logis, kritis, sistematis, dan kreatif dalam melakukan pekerjaan yang spesifik di bidang keahliannya serta sesuai dengan standar kompetensi kerja bidang yang bersangkutan
• CPL-7
  Menguasai pengetahuan tentang teknologi yang berdasarkan Fisika dan penerapannya.
• CPL-8
  Mengkomunikasikan gagasan dan / atau hasil penelitian mereka dalam bentuk penulisan akademis dan berbicara secara efektif.

CPMK-1
Mahasiswa mampu menguasai konsep: (1) material kristalin sebagai pusat-pusat penghambur sinar-x, yaitu: geometri kristal, kisi dan basis sebagai pembangun struktur kristal, paramater kisi, sel satuan, simetri kristal, bidang kristal dan penentuan orientasinya. (2) Fisika dari sinar-x, sifat-sifat dan cara produksinya, spektrum kontinyu dan spektrum karakteristik, transisi elektron pada atom yang disertai dengan emisi radiasi karakteristik sinar-x.

CPMK-2
Mahasiswa mampu mendemonstrasikan pemahamannya tentang konsep difraksi sinar-x oleh atom-atom kristal guna memahami struktur internal material kristalin, set-up eksperimen XRD, dan mengakses data hasil eksperimen XRD tersebut.

CPMK-3
Mahasiswa mampu unjuk keterampilan dalam menganalisis dan menginterpretasi data hasil eksperimen XRD baik secara kualitatif (dengan software Match!) maupun kuantitatif (dengan metode Rietveld dan software Rietica)