MK Analisis Data Difraksi ini berisikan topik yang sangat penting peranannya dalam mempelajari Ilmu Bahan ( Material Science ), khususnya mempelajari bagaimana cara menginvestigasi dan memaknai struktur internal material padatan kristalin melalui kajian teoritis dan kegiatan eksperimen tentang difraksi sinar-x dan pengalaman empiris lainnya berupa kegiatan analisis data hasil eksperimen di atas, baik secara kualitatif maupun kuantitatif. Materi dari mata kuliah ini terdiri dari empat bagian utama yang akan disajikan secara urut dan runtut, pertama dimulai dengan review tentang material padat kristalin (disingkat kristal) sebagai pusat-pusat penghambur sinar-x, geometri kristal, kisi dan basis sebagai pembangun struktur kristal, paramater kisi, sel satuan, simetri kristal, bidang kristal dan penentuan orientasinya. Kedua , kajian tentang fisika dari sinar-x, sifat-sifat dan cara produksinya, spektrum kontinyu dan karakteristik, transisi elektron pada atom yang disertai dengan emisi radiasi karakteristik sinar-x. Ketiga , kajian tentang ilmu difraksi sinar-x oleh atom-atom kristal guna memahami struktur internal bahan kristalin, set up eksperimen difraksi sinar-x, dan mengakses data hasil eksperimen. Keempat , kajian teoritis tentang bagaimana cara menganalisis data hasil eksperimen difraksi sinar-x, baik secara kualitatif maupun kuantitatif dengan menggunakan metode Rietveld dan perangkat lunak Rietica , serta mempraktekkannya dengan sampel uji tertentu.